当光线穿过被应力影响的材料时，不同方向的光会以不同的速度传播，导致入射光偏离原来的路径。通过测量这种偏离角度，可以分析材料中的应力状态和分布。双折射应力仪通常利用干涉仪测量光弹效应所造成的偏振光变化，代替直接测量光的传播速度或者相位差
Features
广泛运用：液晶基板应力分布测量，大型液晶基板应力分布测量，应力测量
Specifications
液晶面板6代-11.5代 自动双折射应力测量装置
产品规格书
1. 概述
1.1 简介
ABR-100 系列装置能够以 0.01nm 的线性解析度来测量被检样品的双折射系数。可同时测量样品的双折 射主轴和延迟轴两个方向。双折射作为光学相位差被检测。
由于通过双折射测量可以有效地对光学材料的内部应力（失真）及聚合物膜的取向特性进行评估，因 此，双折射测量被广泛应用于材料研究部门以及制造过程中的质量管理。
由于配备了标准的用户友好应用程序软件，因此无需具备专业知识，任何人都可以很容易地进行 操作。
1.2 特点
◎高速测量
◎高线性解析度
◎高精度・广域动态范围
◎测量位置确认
◎操作简单
◎最适合质量管理
1.3 用途/应用实例
◎液晶
・液晶元件
・相位差薄膜
◎半导体
・透镜、衬底
◎光盘
・ CD，DVD 用透明衬底 ・ 光头用部件
◎其他
・大型玻璃块
・各种塑料透镜
・ 各种光纤预制棒
约 0.1 秒钟／测量点（同时测量相位延迟和方位角）
双折射相位差： 0.01 nm
主軸方位角： 0.1 deg.
激光外差法
可以通过目测来确认测量位置
由用户友好式的操作画面和显示画面组成
1.4
(1)主要规格
测量功能
测量项目
双折射相位差:Re(nm)
双折射相位差：δ(deg.)
主轴方位角：φ(deg.)
测量范围*
0～260nm
0～150deg.
0±90 deg.
线性解析度
0.01nm
0.006 deg.
0.1 deg.
重复精度 (*)
±0.03nm
±0.018deg.
±0.1nm
±0.06 deg.
±0.5deg.
测量时间
约0.1秒钟／测量点（同时测量相位延迟和方位角）
(*) 测量标准样品时 : 空气层 (Re. = 0nm), 测量结果 (3σ)
(**) 测量标准样品时 : 1/4波片 (Re.≒158nm), 测量结果 (3σ)
*测量波长为632.8nm的情况下
(2) 光学系统
测量原理
激光外差法
光源
He-Ne激光(λ=632.8nm) 输出功率 2mW 类3B
光束直径
φ0.75mm (1/e2)
(3) 样品测量台
样品测量台
自动 X/Y轴 测量台
样品尺寸
Max.1600 x 2000mm
样品重量
测量范围
Max.1600 x 2000mm
测量间隔：25mm间隔
(4) 数据处理系统
硬件PC： intel Core™ i5(CPU)
软件
OS : Windows10Pro 64bit
测量模式 ： Re和φ的测量值
分析模式 ： Re和φ的曲线，VECTMAP（另售）
