WPA-200系列可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,使其成为*的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器,适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
Features
主要应用:
·光学零件(镜片、薄膜、导光板)
·透明成型品(车载透明零件、食用品容器)
·透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)
·透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)
·有机材料(球晶、FishEve)
Specifications
技术参数:
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-3500nm |
4 | 测量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | <1nm(西格玛) |
6 | 视野尺寸 | 218x290mm-360×480mm(标准) |
7 | 选配镜头视野 | 无选配 |
8 | 选配功能 | 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制,CD模式 |