产品介绍

自动测定，并用颜色编码显示应力分布

即测即显示，操作简单快捷

多块样品可以自动区分测量

测量数据自动存储，所有测量参数与结果可追溯

可与生产现场串联，提高品质管控

可优化制造工艺，降低成本

双折射测量系统是一款用于测量光学材料线性双折射辐度和快轴角度
的高精密仪器易于使用。该系统允许用户对平面透射样品运行区域扫描并描绘双折
射测量图。

双折射测量系统描述 下面列出了双折射测量系统的主要组成部分.  
样品扫描模块:  包含的组件用于产生调制光、探测从样品穿过的光。参见下一页图
1.1为组件布局。  各个组件如下: 
? 源模块
o 氦氖激光 - 提供633nm波长光束.
o 50 kHz PEM –在光入射到样品前对光束偏振态可控调制
–探测器模块– Det-92探测器获取在通过偏振光学器件后的调制激光束。该探
测器所测的信号用来确定样品双折射。
? X-Y 驱动器– 移动光源和探测器模块使光束穿过样品的不同位置。