手机玻璃应力检测仪 康宁五代玻璃应力测试仪 FSM-6000LE应力测试仪 日本AET介电常数分析仪 手持式应力仪 散乱光光弹应力仪SLP-1000/2000 FSM-6000X多波段玻璃应力仪 应力仪配件及耗材(三棱镜/折射液/加密锁)
简介
TY-ABR-1000 装置,在本公司制造的自动双折射测量装置(TY-ABR-1000 系列)的基础上增设了应力载荷装置,由此可以测量到高精度的光弹性常数。测量方法是,采用配置的拉伸/压缩试验机,对样品施加载荷的同时测量光弹性常数。
双折射测量的方式,由于采用光学外差法的普通光路干涉仪,及通过Fourier分析法进行数据处理的方式, 其特点是速度快,精度高,并不受振动及空气流动等外界干扰。干涉仪采用波长为633 nm的频率稳定的横向Zeeman激光器(输出2 mW)作为光源,尽量减少设备构成中的光学部件,实现了长期使用过程中,基本上无需维护的构造。
本设备使用由两个线性偏振光分量(f1,f2)组成的稳频激光器(STZL),两个线性偏振光分量的光频 率略有不同并且彼此正交。 该双频光被斜角分离器分成两个光路,并且每个均被线性偏振器混合成外差。由光电二极管进行光电转换的拍频信号(fb = f1-f2)为几百kHz,可以通过示波器或电相位计读取。
以此方式,样品的光学相位差(δ)被转换为拍频信号的相位差(δ),并且可以容易地被测量。如图所示,通过使半波片和线性偏振片同步旋转来获得样品的主轴方向(φ)。
相位差:Re
Re=(λ/2π)δ=(nS-nF)d
?λ :光源波长
?δ :实测相位差
?nS,nF :主折射率
?d :样品厚度
主轴方位角:φ
1.4.1 光弹性常数的测量性能及规格性能
测 量 范 围 : | 0.1~200 (×10-12/Pa) 前 后 |
重复精 度 * : | 2%以下 以 TAC(三乙酰纤维素)薄膜作为被测样品测量时 |
测 量 方 法 :
| (1) 压缩模式; 对类似于普通玻璃的硬质样品施加压缩载荷进行测量的模式(标准样品形状;φ20,t15mm) (2) 拉伸模式; 对类似于薄膜的软质样品施加拉伸载荷进行测量的模式 (有关例如哑铃形或条形薄膜等其他形状的样品,将另行协商) (利用初始双折射量校准功能,可以使该测量不受样品初始条件的影响) |
载 荷 范 围 : | 0~50N (最小每 0.1N 程序) |
规格
转换模式: | 压缩模式及拉伸模式 |
驱动系统 : | 采用步进马达同时驱动左右螺钉 |
模式切换: | 可通过软件切换(但是,样品卡盘需要手动切换) |
拉伸/压缩速度: | 0.01~100mm/min |
拉伸/压缩距离: | 100mm MAX |
称重传感器: | 额定 50N (可更换为 200N,1000N) |
1.4.2 双折射测量性能及规格性能
测 量 项 目 : | ○ 双折射相位差:Re | (光学相位差:δ) | ○ 主轴方位角:φ |
测 量 范 围 : | 0~260nm | (0~150deg.) | 0±90deg. |
解 析 度 : | 0.01nm | (0.006deg.) | 0.1deg. |
重 复 精 度 : | ±0.5nm | (±0.3deg.) | ±0.5deg. |
(水晶材质的相位差板(1/4λ)在正常的检验室环境下测量的实际值 为3σ) | |||
测 量 时 间 : | 3秒以下/测量点(同时测量相位差及方位角) |
规格
测 量 原 理 : | 光学外差测量法(双折射量 Re,主轴方位角 φ) |
光 源 : | He-Ne 激光(λ=633nm;输出 2mW) [稳频横向 Zeeman 激光器] |
光 束 直 径 : | φ0.75mm(1/e2) |
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