WPA-200 系列相位差应力仪是由日本 Photonic Lattice 公司以光子晶体制造技术开发的光学测量产品，以下是其详细介绍：

特点

• 操作简便与测量快速：操作简单易懂，测量速度快，可在 3 秒内完成一次测量，能极大提高检测效率.

• 视野广阔与一次测量：采用 CCD camera，能够对视野范围内的样品进行一次性测量，从而全面掌握应力分布情况，减少测量误差和不确定性.

• 数据直观呈现：测量数据以二维分布图像的形式展示，用户可以更直观地读取数据，并且还具备多种分析功能以及测量结果的比较功能，帮助用户更好地理解和评估样品的双折射和应力情况.

• 维护成本低：仪器不含旋转光学滤片的机构，降低了维护成本和复杂度.

技术参数

• 输出项目：可输出相位差（单位：nm）、轴方向（单位：°），通过选配功能还可实现相位差与应力换算（单位：MPa）.

• 测量波长：有 520nm、543nm、575nm 等多个测量波长可供选择.

• 双折射测量范围：0 - 3500nm，适用于多种材料的双折射测量，部分型号可拓展至 10000nm.

• 测量最小分辨率：0.001nm，具有较高的测量精度.

• 测量重复精度：小于 1nm（西格玛），保证了测量结果的可靠性和稳定性.

• 视野尺寸：标准视野尺寸为 218x290mm - 360×480mm，不同的选配镜头可能会有不同的视野范围.

应用领域

• 光学材料研究：可用于评估各类光学薄膜（如反射膜、增透膜等）的性能，以及分析新型光学晶体的双折射特性，为光学材料的研发和生产提供重要的参数支持1.

• 显示技术：在液晶显示器（LCD）面板和有机发光二极管（OLED）的生产中，可检测面板中的相位差分布，帮助研发和优化光学层，提高显示质量.

• 塑料制品行业：能够测量透明塑料制品中的应力分布，评估产品质量，为改进塑料加工工艺提供依据，减少双折射现象对产品性能的影响.

• 半导体制造：可用于检测硅片等半导体材料的双折射，确保半导体材料符合制造要求，提高半导体器件的性能和可靠性.

• 科研领域：在物理学研究中，可用于探究光与物质相互作用时的双折射现象；在生物医学研究中，可提供细胞和组织的光学特性分析，为相关研究提供有力的工具.